四探針方阻電阻率測試儀報價型號:ZXKJ-FT-331庫號：M265954 查看hh
適用范圍：
適用于企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析半導體材料質量的工具；液晶顯示，自動測量和系數補償，并帶有溫度補償功能，自動轉換量程；采用芯片控制，恒流輸出，選配：PC軟件，保存和打印數據，生成報表

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四探針方阻電阻率測試儀報價四探針方阻電阻率測試儀報價 型號:ZXKJ-FT-331庫號：M265954 查看hh

適用范圍：

適用于企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析半導體材料質量的工具；液晶顯示，自動測量和系數補償，并帶有溫度補償功能，自動轉換量程；采用芯片控制，恒流輸出，選配：PC軟件，保存和打印數據，生成報表

技術參數

1.方塊電阻范圍 10^-5～2×10^5Ω/□

2.電阻率范圍 10^-6～2×10^6Ω-cm

測試電流范圍 0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA

4.電流精度 ±0.1%

5.電阻精度 ≤0.3%

6.顯示讀數液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率

7.測試方式普通單電測量

8.工作電源輸入: AC 220V±10%.50Hz 功耗：<30W

9.誤差 ≤4%（標準樣片結果）

10.選購功能選購1.pc軟件；選購2.方形探頭；選購3.直線形探頭；選購4.測試平臺；5.標準電阻.

11.測試探頭探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

12.標準電阻（選購）規格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ

參照標準：

硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國標設計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

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